WLP-208平均粒度测定仪（弗氏仪）

发布时间：2007-3-1 14:59:37

  该仪器是在WLP—205型仪器上增加了压力校正器。采用这套工具使被压紧的粉末材料达到相同的紧密程度（任何人都可达到相同的压紧程度），从而使测试更加简便、而且消除了人为误差。其它主要技术指标与WLP—205型平均粒度测定仪相同。
二、主要技术指标
1、测量范围：第I档0.2─20μm(微米)
第Ⅱ档 20─50μm(微米)
2、再现性：3％
3、工作环境：相对湿度不大于80％，温度：25±10℃
4、电源：∽220±22v 50-60Hz
5、功率：50W
6、重量：18Kg
7、外型尺寸：735×414×2443